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SunPower X21 / E20 Monocristalline Silicon Solarmodule

SunPower X21 / E20 Monocristalline Silicon Solarmodule

Unmatched performance, reliability & aesthetics Artikelnummer: 90210530 Open Circuit Voltage: max. 67.9 V Rated MPP-Voltage: 57.3 V Short Circuit Current: 6.23 A Series: Mono Power Rated: 335 Wp Efficiency: 21% Dimensions: 1559 x 1046 x 46 mm Weight: 18.6 kg IP: IP65 Maximum System Voltage: 1000 V IEC Number of Cells: 69 Connector: MC4 compatible
Abschirmung Trafostation

Abschirmung Trafostation

Systron PowerShield Flächenabschirmung wird eingesetzt, um niederfrequente Magnetfelder in Trafostationen, zu reduzieren und Personen und Geräte vor den Feldern zu schützen. Die Abschirmung kann in den Trafostationen selbst oder in den betroffenen, benachbarten Räumen eingebaut werden. Mit der Abschirmung werden gesetzliche oder technische Grenzwerte eingehalten oder Feldbelastungen auf Personen vorsoglicherweise so klein wie möglich gehalten. Die Abschirmungen werden für kleine und grosse Flächen gleichermassen eingesetzt. Systron PowerShield Abschirmsystem besteht aus einer Kombination von magnetisch und elektrisch leitenden Metallen und wird typischerweise zur Begrenzung niederfrequenter Magnetfelder mit Frequenzen von 16.7Hz, 50Hz bis ca. 1000Hz eingesetzt. Die Abschirmung kann auf Böden, Wänden oder Decken montiert werden. Abschirmung Trafostation Abschirmung unter einem Schulhaus
Telma - Kompetenzzentrum für  Industrieelektronik

Telma - Kompetenzzentrum für  Industrieelektronik

Wassermelder Optische Warnsysteme Wasserdesinfektion Niveauregler Messumformer Motorlastüberwachung Relais SYR93 LCD TS Display Vertriebspartner werden
Flussdichte-Messgerät H1-4, Artikelnummer 80.0017.B

Flussdichte-Messgerät H1-4, Artikelnummer 80.0017.B

Anwendung Für Messungen von Feldern, die in Richtung Sondenachse verlaufen. Technische Daten Anzeige LCD- Digitalanzeige mit 15 mm Ziffernhöhe, 3 1/2 Digit, 3 Messungen/Sekunde, automatische Polaritätsanzeige Messbereiche 3 Messbereiche: 0-20 mT, 0-200 mT und 0-2000 mT größte Auflösung 0.01 mT Messgenauigkeit besser ±2 % vom Messwert über interne Kalibrierspannung, besser ±1 % vom Messwert mittels Vergleichsmagnet Ausgang Analogausgang ± 199.9 mV entsprechend 1999 Digit, Anschluss für Analoganzeige, XY-Schreiber und A/D-Wandler Stromversorgung über mitgeliefertes Netzgerät, Trocken-Batterie 9V-Block Betriebsdauer ca. 100 Stunden über Trockenbatterie Abmessungen 145 mm x 80 mm x 38 mm Gewicht 0.3 kg
Elementanalyse - Röntgenspektroskopie (EDX)

Elementanalyse - Röntgenspektroskopie (EDX)

Oberflächenanalyse Eine ideale Ergänzung des Rasterelektronenmikroskops (REM) für die umfassende Charakterisierung winziger Strukturen oder Oberflächendetails bildet unser hochmodernes System für die Röntgenspektroskopie (EDX). Jedes Detail, welches das REM abbildet, kann damit auf seine oberflächennahe Elementzusammensetzung untersucht werden. Neben Punkt- und Linienanalysen ist die Erstellung von „Elementlandkarten“ möglich. Wenn diese dem elektronenmikroskopischen Bild überlagert werden, lässt sich die Elementverteilung auf der Objektoberfläche wirksam charakterisieren. Für einen Grossteil der Fragestellungen aus den Bereichen Oberflächenmorphologie, Partikelcharakterisierung und Materialanalyse sind REM und EDX in ihrem Zusammenspiel die erste Wahl.